高分辨率掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競(jìng)爭(zhēng)力的掃描電鏡價(jià)格,廣泛用于科研單位使用。
晶圓芯片裝卸操作臺(tái) 參考價(jià)：面議
晶圓裝卸操作臺(tái)是專(zhuān)業(yè)為4英寸晶圓裝卸,晶圓搬運(yùn),晶圓取放等晶圓操作操縱設(shè)計(jì)的晶圓裝卸定位臺(tái)系統(tǒng)。它采用XYZ三維定位臺(tái)和360度旋轉(zhuǎn)臺(tái)集成而成。
光纖連接器端面測(cè)試干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖連接器端面測(cè)試干涉儀FiBO®200是經(jīng)濟(jì)型的光纖接頭端面分析測(cè)量?jī)x器。具有光纖接頭高分辨率3D表面計(jì)量和自動(dòng)缺陷檢測(cè)功能?？稍谏a(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)或現(xiàn)場(chǎng)快速...
光纖連接器端面檢測(cè)儀,光纖接頭端面干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖連接器端面檢測(cè)儀FiBO®250是光纖接頭端面干涉儀是對(duì),可提供高分辨率3D表面計(jì)量和自動(dòng)缺陷檢測(cè)結(jié)合。
光纖端面幾何測(cè)量?jī)x,相移干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖端面幾何測(cè)量?jī)xFiBO®300是一種多功能phase-shifting相移干涉儀，用于對(duì)裸光纖和非標(biāo)準(zhǔn)光纖連接器的光纖端面幾何結(jié)構(gòu)測(cè)量分析?？勺児?..
光纖色散測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光纖色散測(cè)試儀CD500是為光纖色散測(cè)量設(shè)計(jì)的色散測(cè)量系統(tǒng),具有測(cè)量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產(chǎn)檢測(cè)。
光纖光譜衰減測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
光纖光譜衰減測(cè)量?jī)xSA500HD是為光纖衰減測(cè)量設(shè)計(jì)的光纖衰減測(cè)試儀器,利用DSP和固態(tài)單色儀技術(shù)測(cè)量光纖光譜損耗對(duì)波長(zhǎng)的變化。高動(dòng)態(tài)范圍允許測(cè)試現(xiàn)在在中發(fā)現(xiàn)的...
模場(chǎng)直徑有效面積測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
模場(chǎng)直徑有效面積測(cè)量系統(tǒng)是pe.fiberoptics公司光纖模場(chǎng)直徑測(cè)試和光纖有效面積分析測(cè)量設(shè)計(jì)的MFD和Aeff測(cè)試儀器。
可調(diào)光纖法布里-珀羅濾波器 參考價(jià)：面議
可調(diào)光纖法布里-珀羅濾波器Fiber Fabry-Perot (FFP) Tunable Filter采用堅(jiān)固外殼封裝和全光纖制造,具有較低損耗,無(wú)準(zhǔn)直光學(xué)元件...
KPFM-SKPM開(kāi)爾文探針力顯微鏡 參考價(jià)：面議
這款KPFM開(kāi)爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開(kāi)爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscopy)可以訪問(wèn)從50mm到350mm的樣品...
單點(diǎn)開(kāi)爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
我們的單點(diǎn)開(kāi)爾文探針系統(tǒng)采用非零信號(hào)檢測(cè)方法對(duì)材料的功函數(shù)/費(fèi)米能級(jí)進(jìn)行非常高質(zhì)量的測(cè)量。
超高真空開(kāi)爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超高真空開(kāi)爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測(cè)量。每個(gè)系統(tǒng)都配有高質(zhì)量的手動(dòng)或電動(dòng)轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)可靠和準(zhǔn)確的針尖到樣品定位，跟蹤...
開(kāi)爾文探針系統(tǒng),Kelvin Probe 參考價(jià)：面議
開(kāi)爾文探針系統(tǒng)Kelvin Probe可用于光電化學(xué)中,精確測(cè)量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高。表面態(tài)在樣品的電荷轉(zhuǎn)移和功函數(shù)變化中起著重要作用。
超高真空超低溫四探針SPM顯微鏡 參考價(jià)：面議
這超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計(jì)的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產(chǎn)品可用于納米技術(shù)
高壓濺射PVD物理氣相沉積系統(tǒng) 參考價(jià)：550000
高壓PVD系統(tǒng)配置適合在晶圓濺射金屬膜,磁性材料,多組分氧化物,得益于它靈活的配置和特殊的晶圓加熱器設(shè)計(jì),PVD可以在溫度最高900℃的襯底上濺射金屬膜層和磁性...
電子束蒸發(fā)鍍膜系統(tǒng) 參考價(jià)：1200000
電子束蒸發(fā)系統(tǒng)是按照“從實(shí)驗(yàn)室到工廠"的方法設(shè)計(jì)的電子束鍍膜蒸發(fā)系統(tǒng),既適用于密集的研發(fā)活動(dòng)，也適用于中試生產(chǎn)。
晶圓電阻率測(cè)試儀Sheet Resistance 參考價(jià)：面議
晶圓電阻率測(cè)試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類(lèi)型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)...
四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì) 參考價(jià)：面議
這款四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì)可快速測(cè)量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導(dǎo)率,適合多種材料和樣品測(cè)量。
自動(dòng)四探針電阻率mapping測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
自動(dòng)四探針電阻率mapping測(cè)試系統(tǒng)是為晶圓電阻率繪圖mapping設(shè)計(jì)的工業(yè)級(jí)自動(dòng)四點(diǎn)探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)。采用成熟的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，提供快速、準(zhǔn)確和可靠的晶圓樣品...
晶圓厚度變化測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度和厚度變化測(cè)量?jī)xMX10x系列是德國(guó)測(cè)量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器。它的分辨率高達(dá)10nm，可以在幾秒鐘內(nèi)適應(yīng)不同的厚度范圍。
硅片TTV厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
該硅片TTV厚度測(cè)試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測(cè)量?jī)x，能夠精確測(cè)量硅片厚度和測(cè)量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測(cè)量超薄晶圓厚度（掩膜過(guò)程中的晶圓），硅片厚度測(cè)試...
硅片TTV厚度測(cè)試儀,測(cè)量硅片厚度 參考價(jià)：面議
該硅片TTV厚度測(cè)試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測(cè)量?jī)x，能夠精確測(cè)量硅片厚度和測(cè)量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測(cè)量超薄晶圓厚度（掩膜過(guò)程中的晶圓），硅片厚度測(cè)試...
玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x是大尺寸玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x和玻璃彎曲度測(cè)試儀,廣泛用于翹曲度測(cè)量,彎曲度測(cè)量,表面形貌測(cè)量和鍍膜測(cè)量等。,玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x,玻璃彎曲度測(cè)試儀由...
晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款多功能晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x是為晶圓生產(chǎn)線上自動(dòng)晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)計(jì)的大型自動(dòng)晶圓測(cè)量?jī)x器,具有晶圓厚度測(cè)量,晶圓翹曲度測(cè)量,晶圓BOW/WARP測(cè)量,晶圓wave...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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